賽默飛電子顯微鏡
渾然一體的ChemiSEM技術：集成式掃描電鏡成像與 X 射線能譜解決方案
檢測樣品：金屬 陶瓷 電池
檢測項目：成分分析
方案概述：ChemiSEM技術結合了掃描電鏡(SEM)和與X射線能譜(EDS)，可簡化對金屬、陶瓷、電池、涂層、水泥和軟材料等多種材料的復雜分析。
更優(yōu)的用戶體驗
ChemiSEM通過一個軟件系統(tǒng)同時進行SEM和EDS分析，大大減少了新用戶學習時間，使得分析更加順暢，延長了機器的有效機時，在同樣的時間里分析更多的樣品。
強大的分析性能
ChemiSEM技術可實時自動處理原始信號，生成定量圖。對數據進行解卷積，避免出現和峰和重疊峰，并去除背景；全新功能ChemiPhase可以利用實驗數據中所有具有統(tǒng)計學意義的譜圖對每個相位進行系統(tǒng)性的識別，而不依賴于對樣品的預先假設；不僅如此，ChemiSEM技術通過持續(xù)監(jiān)測樣本位置，可自動校正樣本漂移。
可靠的數據質量
ChemiSEM 技術提供了智能、全自動化的自動 ID 優(yōu)化、數字峰值擬合和矩陣校正程序，使各類用戶都能獲得可靠的結果。隨著數據的累積，一系列統(tǒng)計驗證程序將持續(xù)自動對數據進行建模和優(yōu)化，讓用戶安心使用。
多樣的搭配機器
ChemiSEM技術將來可搭載 Thermo Scientific™ Axia™、Apreo™ 2 和 Quattro™ 掃描電鏡，滿足不同類型用戶的需求。
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